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Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques (en Inglés)
Sebastian Huhn; Rolf Drechsler
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques (en Inglés)
Sebastian Huhn; Rolf Drechsler (Autor) · Springer · Tapa Dura
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$ 349.027Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques (en Inglés)
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