Name: High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (en Inglés)
Price: 466465.00 COP
Availability: InStock
Author: Adams, R. Dean
ISBN: 9781475784749

portada High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (en Inglés)

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

R. Dean Adams

Editorial

Springer

Idioma

Inglés

N° páginas

250

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 1.4 cm

Peso

0.38 kg.

ISBN13

9781475784749

Categorías

Manufactura asistida por ordenador (cam)
Ingeniería eléctrica
Electrónica: circuitos y componentes
Diseño asistido por ordenador (cad)

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (en Inglés)

R. Dean Adams (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test (en Inglés)"

Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.