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portada Recent Advances in LOGO Detection Using Machine Learning Paradigms: Theory and Practice (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
122
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN13
9783031598104

Recent Advances in LOGO Detection Using Machine Learning Paradigms: Theory and Practice (en Inglés)

Yen-Wei Chen (Autor) · Xiang Ruan (Autor) · Rahul Kumar Jain (Autor) · Springer · Tapa Dura

Recent Advances in LOGO Detection Using Machine Learning Paradigms: Theory and Practice (en Inglés) - Chen, Yen-Wei ; Ruan, Xiang ; Jain, Rahul Kumar

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