Name: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21-22, 2021, Procee (en Inglés)
Price: 230248.00 COP
Availability: InStock
Author: Torsello, Andrea ; Rossi, Luca ; Pelillo, Marcello
ISBN: 9783030739720

portada Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21-22, 2021, Procee (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Torsello, Andrea ; Rossi, Luca ; Pelillo, Marcello

Idioma

Inglés

N° páginas

378

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4 x 15.6 x 2.1 cm

Peso

0.55 kg.

ISBN13

9783030739720

Categorías

Algoritmos y estructuras de datos
Diseño y teoría de bases de datos
Inteligencia artificial
Arquitectura de la información

Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21-22, 2021, Procee (en Inglés)

Torsello, Andrea ; Rossi, Luca ; Pelillo, Marcello (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21-22, 2021, Procee (en Inglés)"

This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2020, held in Padua, Italy, in January 2021. The 35 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 81 submissions. The accepted papers cover the major topics of current interest in pattern recognition, including classification and clustering, deep learning, structural matching and graph-theoretic methods, and multimedia analysis and understanding.