Compartir
Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films (en Inglés)
Jesús Javier Ortega Cabrera
(Autor)
·
Our Knowledge Publishing
· Tapa Blanda
Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films (en Inglés) - Ortega Cabrera, Jesús Javier
$ 227.917
$ 455.833
Ahorras: $ 227.917
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Jueves 08 de Agosto y el
Jueves 22 de Agosto.
Lo recibirás en cualquier lugar de Colombia entre 1 y 5 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films (en Inglés)"
The improvement of the optical properties of a material, such as reflectance, involves the complex search for the optimal experimental parameters in the process of obtaining them. The use of computational software for the simulation of these thin film growth processes represents a substantial benefit due to the non dependence on a real system, as well as the possibility of exploring a wider range of physical quantities involved. In addition, there is a need in the automotive industry, Varroc Lighting Systems(c) has been given the task of improving the reflectance of aluminized headlights, so we carried out the development, using NASCAM(R) software, which uses the Monte Carlo kinetic method to develop a model of the physical system to be studied on a nanometric scale, this will allow us to analyze the influence of different magnitudes that can affect the reflectance of the material.
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.