Name: Impact Ionization in Presence of Electric and Magnetic Fields (en Inglés)
Price: 158443.00 COP
Availability: InStock
Author: Mukherjee, Prajukta ; Acharyya, Aritra
ISBN: 9786202669696

portada Impact Ionization in Presence of Electric and Magnetic Fields (en Inglés)

Impact Ionization in Presence of Electric and Magnetic Fields (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Aritra Acharyya

Prajukta Mukherjee

Editorial

LAP Lambert Academic Publishing

Idioma

Inglés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

22.9 x 15.2 x 0.5 cm

Peso

0.14 kg.

ISBN13

9786202669696

Categorías

Ingeniería electrónica

Impact Ionization in Presence of Electric and Magnetic Fields (en Inglés)

Aritra Acharyya (Autor) · Prajukta Mukherjee (Autor) · LAP Lambert Academic Publishing · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Impact Ionization in Presence of Electric and Magnetic Fields (en Inglés)"

Both the theoretical and experimental studies on the impact ionization phenomena under electric and magnetic fields are the primary subject matter of this book. Detailed theoretical modelling of impact ionization phenomena and consequent breakdown of a p-n junction have been presented. The theories discussed in this book are validated by using appropriate experimental measurements. The 4H-SiC has been chosen as the semiconductor material for the experimental studies. However, the theories and models presented in this book are valid for any semiconductor material.