Name: microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)
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Availability: InStock
Author: Hakim, Edward B. ; Hakim, Edward B. ; Hakim, Edward B.
ISBN: 9780890062845

portada microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)

microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Edward B. Hakim

Introducción de

Edward B. Hakim

Prefacio de

Edward B. Hakim

Editorial

Artech House Publishers

Año

1989

Idioma

Inglés

N° páginas

396

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

23.8 x 16.1 x 3.0 cm

Peso

0.77 kg.

ISBN

0890062846

ISBN13

9780890062845

Categorías

Dispositivos y materiales electrónicos

microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)

Edward B. Hakim (Autor, Introducción de, Prefacio de) · Artech House Publishers · Tapa Dura

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Reseña del libro "microelectronic reliability vol. i: test and diagnostics (en Inglés)"

Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought