Name: Mos Interface Physics, Process and Characterization (en Inglés)
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Availability: InStock
Author: Shengkai Wang Xiaolei Wang
ISBN: 9781032106281

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portada Mos Interface Physics, Process and Characterization (en Inglés)

Mos Interface Physics, Process and Characterization (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Crc Press

Autor

Shengkai Wang Xiaolei Wang

Idioma

Inglés

N° páginas

174

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9781032106281

N° edición

Mos Interface Physics, Process and Characterization (en Inglés)

Shengkai Wang Xiaolei Wang (Autor) · Crc Press · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Mos Interface Physics, Process and Characterization (en Inglés)"

The electronic device based on Metal Oxide Semiconductor (MOS) structure is the most important component of a large-scale integrated circuit and the key to achieving high performance devices. This book contains experimental examples focusing on MOS and will be a reference for academics and postgraduates in the field of microelectronics.