Name: Power-Aware Testing and Test Strategies for low Power Devices (en Inglés)
SKU: 57761322
Price: 317150.00 COP
Availability: InStock
Author: Girard Patrick|Nicolici Nicola|Wen Xiaoqing

portada Power-Aware Testing and Test Strategies for low Power Devices (en Inglés)

Power-Aware Testing and Test Strategies for low Power Devices (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Girard Patrick|Nicolici Nicola|Wen Xiaoqing

Idioma

Inglés

N° páginas

384

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9781489983138

N° edición

2010th

Power-Aware Testing and Test Strategies for low Power Devices (en Inglés)

Girard Patrick|Nicolici Nicola|Wen Xiaoqing (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Libro Nuevo Importado

Envío: 14 a 20 días háb.

$ 634.300$ 317.150

-50%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan más de 100 unidades

$ 317.150

¡Envío Gratis! Llega entre el 08 Sep y el 17 Sep a Bogota, Cundinamarca. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Power-Aware Testing and Test Strategies for low Power Devices (en Inglés)"

Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.