Name: Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik (en Alemán)
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Author: Olaf Schmidt
ISBN: 9783867461948

portada Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik (en Alemán)

Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik (en Alemán)

Formato

Libro Físico

Editorial

Examicus Verlag

Autor

Olaf Schmidt

Idioma

Alemán

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9783867461948

Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik (en Alemán)

Olaf Schmidt (Autor) · Examicus Verlag · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik (en Alemán)"

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Grö enordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Grö en wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.